用於高精度測量的可調節放大自發輻射激光

目前，很少有技術可以對系統中的微小位移進行準確的監測和檢測。此外，它們不是實施起來非常複雜，就是無法擴大規模以監控大型單位。 本技術簡單有效，適用於多種行業和應用。

• 在這項技術中，ASE過程可用於實現級聯有機薄膜系統的可調節發射光譜，該系統由藍色和綠色發射有機半導體組成。
• 兩種材料的 ASE 定向發射可以通過空間選擇發射信號來調節。因此，配備激光源和光學傳感器的系統可用於各種測量和監控。

• 我們的技術提供了一種簡單、有效、準確和可擴展的方法來檢測、監控和測量物理空間中的微小位移和精細運動。

• 該技術可用於激光產生裝置和激光位移傳感器。它們或會是自動測試和測量尺寸的完美工具。
• 它可以在不同的工業應用中實現高準確度和非接觸式測量，例如品質控制和過程監控。

• 美國專利號 US 9,614,346
• 美國專利號 US 9,923,339